LAU - JOHN H
النسخة العربيةرقم الكتاب | اسم الكتاب | اسم المؤلف | رقم التصنيف | الطبعة | مكان الكتاب | تاريخ النشر | حالة الكتاب |
---|---|---|---|---|---|---|---|
226155 | Reliability of rohs-compliant 2d and 3d ic interconnects | LAU - JOHN H | 621.381046 LAU | وادي الهرية | 2011 | غير معار |
PPU Library
رقم الكتاب | اسم الكتاب | اسم المؤلف | رقم التصنيف | الطبعة | مكان الكتاب | تاريخ النشر | حالة الكتاب |
---|---|---|---|---|---|---|---|
226155 | Reliability of rohs-compliant 2d and 3d ic interconnects | LAU - JOHN H | 621.381046 LAU | وادي الهرية | 2011 | غير معار |